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美國FEI掃描電子顯微鏡

美國FEI掃描電子顯微鏡

簡要描述:
主要特點:

1.FEI ESEM(環境掃描電鏡)技術,可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。

2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。

3.先進的系統結構平臺,全數字化系統。

4.可同時安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統。

5.可安裝低溫冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品的原位、動態觀察和分析。

更新時間:2019-09-18

訪問量:2549

廠商性質:經銷商

生產地址:

產品介紹

技術參數:

1.分辨率:

 二次電子:

  高真空模式3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV

  高真空減速模式7nm @ 3kV (可選項)

  低真空模式3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV

  環境真空模式3.0nm @ 30kV

 背散射電子4.0nm @ 30kV

2.樣品室壓力zui高達2600Pa

3.加速電壓200V30kV,連續調節

4.樣品臺移動范圍

Quanta 250: X=Y=50mm

Quanta 450: X=Y=100mm

Quanta 650: X=Y=150mm

主要特點:

1.FEI ESEM(環境掃描電鏡)技術,可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。

2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。

3.先進的系統結構平臺,全數字化系統。

4.可同時安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統。

5.可安裝低溫冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品的原位、動態觀察和分析。

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